Anomalous X-Ray Scattering for Materials Characterization: Atomic-Scale Structure Determination (Springer Tracts in Modern Physics, 179, Band 179)
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213.99 EUR
Preis aktualisiert am: 13-05-2026 08:08:26
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Preis aktualisiert am: 13-05-2026 08:08:26 | Bezeichner | |
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| MPN | Springer Berlin Heidelberg 21353444 |
| ISBN | Springer Berlin Heidelberg 3662146371 |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
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