Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy

Gesponsert  Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen

Gesponsert Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy, Fachbücher von Ignace Jarrige

59.00 EUR
Preis aktualisiert am: 16-05-2026 19:52:26
Siehe Produktangebot
Bezeichner
ISBN 6131502005
Abmessungen / Gewicht
Hauptmerkmale