Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy
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Gesponsert Caractérisation à l'échelle nanométrique d'interfaces métal/SiOxNy, Fachbücher von Ignace Jarrige
59.00 EUR
Preis aktualisiert am: 03-08-2026 08:43:12
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Preis aktualisiert am: 03-08-2026 08:43:12 | Bezeichner | |
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| ISBN | 6131502005 |
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| Hauptmerkmale | |
