Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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|---|---|
| ISBN | Springer US 0387465464 |
| MPN | Springer US 5860717 |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
Springer US ist eine Marke, die sich auf den Verkauf von Büchern spezialisiert hat. Sie hat eine große Auswahl an verschiedenen Titeln und bietet ihren Kunden eine hohe Qualität.
