Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

Gesponsert  Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen

Gesponsert Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

97.84 EUR
Preis aktualisiert am: 28-04-2026 18:14:12
Siehe Produktangebot

Gesponsert Design-for-Test and Test Optimization Techniques for TSV-based 3D Stacked ICs

106.99 EUR
Preis aktualisiert am: 28-04-2026 20:47:30
Siehe Produktangebot
Bezeichner
MPN Brandon Noia 18 black & white illustrations, 115 colo
ISBN Brandon Noia 3319023772
Abmessungen / Gewicht
Hauptmerkmale
Brandon Noia