Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors.
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DeubaXXL DE | Bezeichner | |
|---|---|
| MPN | Fraunhofer Verlag 24543793 |
| ISBN | Fraunhofer Verlag 9783839608975 |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
Fraunhofer Verlag ist ein deutscher Verlag, der vor allem wissenschaftliche Literatur publiziert. Er wurde 1949 von dem Physiker Max von Laue gegründet.
