Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs

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Gesponsert Single Electron Spin Measurements in Submicron Si MOS-FETs, Fachbücher von Ming Xiao

59.00 EUR
Preis aktualisiert am: 13-07-2026 00:53:30
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Bezeichner
ISBN 3836493756
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Hauptmerkmale