Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
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|---|---|
| ISBN | Springer New York 1461428572 |
| MPN | Springer New York 2 black & white tables, biography |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
Springer New York ist eine Buchverlagsmarke, die vor allem wissenschaftliche Werke publiziert.
