Walkosz, Weronika: Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si¿N¿ Interfaces
Gesponsert Diese Website enthält Affiliate-Links, für die wir möglicherweise eine Vergütung erhalten. Weitere Informationen
SpringerLink DE
Gesponsert Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
106.99 EUR
Preis aktualisiert am: 01-09-2026 09:55:25
106.99 EUR
Preis aktualisiert am: 01-09-2026 09:55:25 | Bezeichner | |
|---|---|
| ISBN | Springer New York 1461428572 |
| MPN | Springer New York 2 black & white tables, biography |
| Abmessungen / Gewicht | |
| Hauptmerkmale | |
Springer New York ist eine Buchverlagsmarke, die vor allem wissenschaftliche Werke publiziert.
