Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]
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Sponsorisé Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization - [Version Originale]
236.18 EUR
Prix mis à jour le: 16-05-2026 22:19:19
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Prix mis à jour le: 16-05-2026 22:19:19 | Identifiants | |
|---|---|
| MPN | Springer-Verlag GmbH 31345890 |
| ISBN | Springer-Verlag GmbH 3319756869 |
| Dimensions / poids | |
| Fonctionnalités clés | |
Springer-Verlag GmbH
