Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy
Sponsorisé Ce site contient des liens d'affiliation pour lesquels nous pouvons recevoir une compensation. Plus d'informations
Sponsorisé Semiconductor Device and Failure Analysis: Using Photon Emission Microscopy
270.90 EUR
Prix mis à jour le: 15-09-2026 22:31:30
270.90 EUR
Prix mis à jour le: 15-09-2026 22:31:30 | Identifiants | |
|---|---|
| Dimensions / poids | |
| Fonctionnalités clés |



![Nondestructive Evaluation of Semiconductor Materials and Devices (Nato Science Series B:) - [Version Originale]](https://www.consumerstore.com/img/143/aa76cc5466dfbf00356784143.jpg)



![Materials and Reliability Handbook for Semiconductor Optical and Electron Devices - [Version Originale]](https://www.consumerstore.com/img/593/a5da037304aaf35d756823593.jpg)
